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online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage

  • 型 號:
  • 訪問次數:2299
  • 更新時間:2024-09-03
  • 價   格:

online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升級STS 。 操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。

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  Photron集團公司是日本大型相機,視頻,軟件控制供應商,其旗下的高速/超高速攝像機業務應用非常廣泛,歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備,其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結合研制在線雙折射/殘余應力測量儀,世界上僅有KAMAKIRI可以提供,廣泛應用于光學薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領域


online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage應用領域

  • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC

  • 保護薄膜(PET/PEN/PS/PI

  • 樹脂成型

  • 玻璃


online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage技術參數:

項目

具體參數

1

輸出項目

相位差【nm】,軸方向【°


2

測量波長

543nm(支持客制化)


3

雙折射測量范圍

0-260nm(支持客制化)


4

主軸方位范圍

0-180°


5

測量重復精度

<1nm(西格瑪)


6

測量尺寸

A4(標準)


7

定制選項

可定制大載臺






















   


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